DLPQI 外觀瑕疵檢測

- 客制化針對導線架製程提供高精度解決方案。

- 複合型機台，可同時支援電鍍以及模壓後的檢測需求。

- 入出料系統可支援 Magazine/Slot Cassette形式。

- 微米級機構元件，以滿足高速檢測需求，且可有效克服產品變異量(8mm)

- 符合工業4.0規範(SECS/GEM)。

- 支援AI solution模組，可有效提升產品瑕疵檢出穩定性。

- 可檢出瑕疵: 腳數、腳斷、腳彎、腳上髒污、偏移、錫渣、露銅、溢膠、麻面針孔、銅粉殘留、露金線...等等。