DELI 導線架檢查系統

- 客制化針對導線架製程提供高精度解決方案。

- 高解析度相機搭配特殊光源模組，有效提升瑕疵對比。

- 支援導線架雙面檢測需求。

- 微米級機構元件，以滿足高速檢測需求。

- 符合工業4.0規範(SECS/GEM)。

- 支援AI solution模組，可有效提升產品瑕疵檢出穩定性。

- 可檢出瑕疵: Overetch、蝕刻不全、汙染、刮傷、橋接、毛邊、變形...等等。